固态硬盘损坏后如何进行数据恢复？

关于固态硬盘的耐用性，我们需要了解闪存芯片的P/E（擦写）周期限制。P/E次数是衡量SSD寿命的核心指标，例如34nm工艺的芯片寿命约为5000次P/E，而25nm工艺则约为3000次P/E。随着固件算法的优化，现代SSD减少了不必要的写入操作。以120G容量的硬盘为例，累计写入120G数据才算完成一次P/E循环。