主存储器哪种介质保存时间长?

传统的晶体管在工艺进化到90纳米以下之后,就会出现比较严重的漏电问题。为了解决这个难题,各大厂商开始研究新的薄膜材料,比如硅氮化物氧化物薄膜和金属氮化物氧化物薄膜,这种结构简称为ONO膜结构。新材料的应用让存储设备能够做得更小、更稳定。

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原来如此,以前总纠结制程越小越好,没想到漏电问题这么头疼。看来半导体行业的发展就是一边挖坑一边填坑的过程啊,ONO膜结构这个名词还是第一次见,涨知识了。

ONO结构确实是目前NAND闪存的主流方案,不过从“保存时间”这个维度看,其实还要看具体是哪种存储介质。像SRAM这种静态随机存储器,只要不断电就能无限期保存数据,但断电后数据就没了。而题目里提到的这种基于ONO结构的NAND Flash,虽然稳定性好了很多,但在长期不通电的情况下,电荷还是会慢慢泄漏,通常数据保持力在10年左右。如果追求极致的长期保存,可能还是磁带或者光盘更靠谱,毕竟那是物理层面的记录,不像电子存储那样依赖电荷维持。