充电管理芯片烧坏是什么原因?
静电放电(ESD)是另一个主要杀手。充电IC本身耐压有限,主要依靠ESD保护电路防御。如果手机接口设计暴露且缺乏有效防护,在干燥环境或穿着化纤衣物摩擦产生静电时,极易通过数据线传导至芯片。使用破损的充电线也会增加静电击穿芯片的风险。
静电放电(ESD)是另一个主要杀手。充电IC本身耐压有限,主要依靠ESD保护电路防御。如果手机接口设计暴露且缺乏有效防护,在干燥环境或穿着化纤衣物摩擦产生静电时,极易通过数据线传导至芯片。使用破损的充电线也会增加静电击穿芯片的风险。
太真实了,以前总觉得是电压不稳,没想到静电这么厉害。看来以后穿毛衣手机确实得小心点,不然这芯片确实容易“背锅”。